FCC大电流注入探头:大电流注入法(BCI)是一种电磁兼容性(EMC)测试方法,通过电流注入探头将干扰信号直接耦合到被测试设备的线束上,以评估设备的抗干扰能力。
FCC大电流注入探头使用:BCI通过电流注入探头将RF射频干扰耦合到被测试设备的线束上,模拟实际使用环境中可能遇到的电磁干扰情况。
使用FCC大电流注入探头通过BCI测试,可以有效地评估电子设备在电磁环境中的表现,确保其符合电磁兼容性标准,从而提高产品的可靠性和安全性。
FCC大电流注入探头是一种用于测试电子设备对电流干扰的耐受性的重要工具。这种探头具有宽带、高灵敏度和大电流处理能力,能够满足各种测试需求。FCC大电流注入探头的型号和规格多样,以适应不同的测试条件和频率范围。
为了确保测试的准确性,FCC大电流注入探头通常需要配合校准夹具使用。校准夹具的作用包括确定注入探头的正向功率,以在被测系统中产生规定的电流,同时也可用于测量注射探头的插入损耗。
FCC大电流注入探头及其校准夹具广泛应用于电子设备的电磁兼容性(EMC)测试中,特别是在需要评估设备对电磁干扰(EMI)的耐受性时。这些测试有助于确保电子设备在复杂电磁环境中能够正常工作,不会因电磁干扰而失效。