Langer干扰发射探头套组（IC测试系统）P603/P750

Langer干扰发射探头套组（IC测试系统）

品牌：Langer EMV-Technik   

型号：P603/P750

基于IEC61967-4标准的传导发射测量

Langer干扰发射探头套组P603/P750介绍：

使用探针组进行的测量了重复测量时的和测量的可比性。Langer EMV Technik的ICE1 IC测试环境用于启动测试IC。可以使用ChipScan ESA软件进行测量。所有测量引脚的测量结果都保存在软件中，可以快速、系统地进行比较。

Langer干扰发射探头套组P603/P750配置:

1x P603, 1Ω高频电流表

1x P750, 150Ω高频电压表

1x CS-ESA, ESA芯片扫描软件

1x SMA-SMB 1 m, SMA-SMB 测量电缆

1x P603 / P750 case, System case

1x P603 / P750 m

简短的介绍：

P603是1Ω探头，用于直接测量集成电路引脚上的高频电流。测量时，把它接到电源引脚（Vdd/Vss）或信号引脚上。1Ω高频电流表拥有针脚触点，借此可以接触到并对单个的引脚并进行测量。

P750 150Ω高频电压表：P750 高频电压表带有150Ω的耦合电路，它根据IEC 61967-4测量集成电路引脚的高频电压。P750探头具备高阻抗的电容耦合输入，因此能够测量受测物上不同引脚的射频电压。

CS-ESA：ESA芯片扫描软件用于遥控频谱分析仪，存储并记录测量曲线。这些曲线可以任意的相互或者与校正曲线、与频率相关的曲线和曲线常数换算。