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FCC大电流注入探头 |
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FCC大电流注入探头（BCI测试）在评估电子设备的抗干扰能力方面具有重要作用，特别是在汽车电子零部件的EMC测试中。
使用FCC大电流注入探头采用大电流注入法与传统的辐射敏感度测试相比，BCI法具有良好的重复性，且操作简单实用，因此在商业、航空与军事领域的EMC测试中得到了广泛应用。
FCC大电流注入探头是一种用于测试电子设备对电流干扰的耐受性的重要工具。这种探头具有宽带、高灵敏度和大电流处理能力，能够满足各种测试需求。FCC大电流注入探头的型号和规格多样，以适应不同的测试条件和频率范围。
为了确保测试的准确性，FCC大电流注入探头通常需要配合校准夹具使用。校准夹具的作用包括确定注入探头的正向功率，以在被测系统中产生规定的电流，同时也可用于测量注射探头的插入损耗。
FCC大电流注入探头及其校准夹具广泛应用于电子设备的电磁兼容性（EMC）测试中，特别是在需要评估设备对电磁干扰（EMI）的耐受性时。这些测试有助于确保电子设备在复杂电磁环境中能够正常工作，不会因电磁干扰而失效。
FCC大电流注入探头及其校准夹具是电子设备电磁兼容性测试中的重要工具，具有宽带、高灵敏度和大电流处理能力，能够满足各种测试需求，确保电子设备在复杂电磁环境中能够正常工作。
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